电子工业出版社

半导体集成电路的可靠性及评价方法

丛书名：可靠性技术丛书
作译者：章晓文,恩云飞
出版时间：2015-10
字数：519
页数：412
版次：01-01
开本：16开开
印次：01-01
ISBN：9787121271601
所属分类：科技,电子技术,电子技术应用,
定价：88.0

内容简介:
本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。随着集成电路设计规模越来越大，设计可靠性越来越重要，在设计阶段借助可靠性仿真技术，评价设计出的集成电路可靠性能力，针对电路设计中的可靠性薄弱环节，通过设计加固，可以有效提高产品的可靠性水平，提高产品的竞争力。